探針臺又稱探針測試臺，主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規格芯片，并提供多個可調測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數檢測。適用于對材料、芯片等進行科研實驗分析，抽查測試等用途。

  TLRH系列精密型基礎測試探針臺（金相款）是我司根據高校科研及產業研發需要，而特定設計的一款高精密高穩定探針臺，其較高的位移調節精度及優異的漏電精度控制，已成為包括場效應管在內的多端器件IV測試的理想之選。相比常規款TLRH精密基礎測試探針臺，TLRH精密型基礎測試探針臺（金相款）將體式顯微鏡升級為成像效果更好的金相顯微鏡，以方便更小尺寸樣品觀察與扎針。

技術優勢：

細節展示：

詳細模塊配置及參數說明：

常規選型：

實驗附件及常規測試步驟：

光學隔振平臺(臺面>600mm*600mm)、一臺計算機(標準VGA接口和USB接口)、吉時利2400數字源表（含軟件）等。

測試時連接探針臺和數字源表，探針接被測物體，通過顯微鏡觀察確定兩根探針是否緊貼被測物表面，待連接導通后打開源表軟件，選好參數即可出該觸點的I-V性能曲線。

應用領域：

半導體材料測試   功率器件測試   MEMS測試   PCB測試   液晶面板測試   測量表面電阻率   精密儀器生產檢測   航空航天實驗

譜量光電可根據客戶實際應用需求，定制配套探針臺系統，以達更好的測試效果及更高的性價比，具體信息可聯系詳詢。